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日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3 非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體UV照射器VUM-3500 用途：消除閃存和其他非易失性存儲器、圖像傳感器等的電荷和數(shù)據(jù) 特長 -采用最的適合去除電荷的254nm波長。 -因為是單一波長可使低溫處理成為可能。 -采用低入射角UV光，可以有效到達對象區(qū)域。 -降低了LSI的不良率?提高了信賴性。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體光刻機 PPS-8200p1/8300p1 用途：支持各種應用 特長 -寬頻譜光刻 (與菜單連動的 ghi線 gh線, i線的自動切換) -搭載可變NA功能 (可變?yōu)?.16和0.1) -最多8Field的拼接設計格式 -光學系統(tǒng)不受感光材揮發(fā)氣體和周圍環(huán)境中化學物質(zhì)影響
更新時間：2024-08-24
日本microtec半導體絲網(wǎng)印刷機 MT-80SP 對應了各類硅片尺寸的承載盒對承載盒型的全自動硅片用絲網(wǎng)印刷機。 設備結(jié)構(gòu)為：將承載盒（對應各類規(guī)格）裝載至上料部，通過水平搬送機械臂自動取出后，進行預對位（缺口檢測）并印刷，之后再次收納至承載盒?？筛呔热詣拥剡M行焊接凸點及聚乙烯覆蓋等的印刷?？蛇x裝進行FFU的設置。
更新時間：2024-08-24
日本 microscope3個同時視野 變焦顯微鏡YS05T 無需切換光路，3個同時視場，配備Ultra C接口 1.配備 1 個 C 接口的鏡筒，非常適合連接數(shù)碼相機和 iPhone。 2.同時三視新趨勢 3.標準 Ultra C 安裝座，具有齊焦/軸調(diào)節(jié)功能 4.總放大倍率為 6.7 倍至 45 倍的變焦體視顯微鏡
更新時間：2024-08-23
日本 microscope雙目變倍體視顯微鏡MyDesk Zunta 2 總放大倍數(shù)7x~45x 支架臂型（還包括標準桿架） 照明帶 LED 環(huán)形照明和電池供電
更新時間：2024-08-23
日本nykk在線露點儀6020 由于新軟件的開發(fā)，露點計 6020 具有高度的靈活性和各種可自由配置的菜單驅(qū)動選項，允許在各種應用中連續(xù)監(jiān)測露點測量，從高純氣體到該露點計適用于干燥空氣、天然氣等。此外，內(nèi)置微處理器可進行精確的校準調(diào)整，傳感器檢測部分提供出色的靈敏度、重復性和響應速度，使其成為高度可靠的露點計。
更新時間：2024-08-23
日本nykk 便攜式露點儀SADPmini 帶 PPM 和 PPB 顯示的便攜式露點計 最新的便攜式露點儀 SADPmini 可讓您快速輕松地測量氣體和干燥空氣中的水分（露點）。 測量頭與傳統(tǒng)SHAW露點儀/SADP型一樣，配備自動干燥室，測量完成后使傳感器保持干燥狀態(tài)并處于待機狀態(tài)，以便隨時進行露點測量。
更新時間：2024-08-23
日本 aandd天平隔振臺AD-1671 在有振動的環(huán)境中使用分析電子天平時，我們建議使用隔振臺。 ?機身尺寸：460mm x 400mm x 71mm ?體重：約27公斤 ?負載能力：約40公斤 ?材質(zhì)：天然花崗巖 ?注意： 不可能完的全消除所有振動。
更新時間：2024-08-22
日本 rexxam清洗?干燥裝置 臺式型SCRD4 清洗?干燥裝置是使用不會產(chǎn)生毛細管力?表面張力的超臨界流體，可使超微細構(gòu)件得到清洗?干燥且不會造成變形或破壞。 用途 1.連采用IPA（異丙醇）干燥都會受損的、具有超微細結(jié)構(gòu)的晶圓。 2.具有縱橫比較大的MEMS等微細結(jié)構(gòu)的晶圓。 3.硅氣凝膠那樣具有納米量級極細空間的材料制備。 4.加入添加劑、抗蝕劑等的溶解去除、剝離等。
更新時間：2024-08-22
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